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一种深度测量装置以及方法 

申请/专利权人:山东工业陶瓷研究设计院有限公司

申请日:2021-12-16

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN114353628B

主分类号:G01B5/06

分类号:G01B5/06

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.28#授权;2022.05.03#实质审查的生效;2022.04.15#公开

摘要:本发明公开了一种深度测量装置以及方法,深度测量装置包括第一测量件以及用于固定第一测量件的支撑座;所述支撑座上设有与第一测量件相配合的导轨;所述导轨的方向可调,以使所述导轨与待测量工件的孔道平行,所述导轨的位置可调,以使导轨的延长线与待测量工件孔道的最低点相交;所述第一测量件上设有第一刻度线,所述支撑座上设有第二测量件,所述第二测量件上设有第二刻度线,所述第二刻度线与第一刻度线平行且第二刻度线靠近第一刻度线;还包括用于固定支撑座的支撑架,所述支撑架与待测量工件的开口面接触,所述支撑架与待测量工件开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行。

主权项:1.一种深度测量装置,其特征在于,包括第一测量件以及用于固定第一测量件的支撑座;所述支撑座上设有与第一测量件相配合的导轨;所述导轨的方向可调,以使所述导轨与待测量工件的孔道平行,所述导轨的位置可调,以使导轨的延长线与待测量工件孔道的最低点相交;所述第一测量件上设有第一刻度线,所述支撑座上设有第二测量件,所述第二测量件上设有第二刻度线,所述第二刻度线与第一刻度线平行且第二刻度线靠近第一刻度线;还包括用于固定支撑座的支撑架,所述支撑架与待测量工件的开口面接触,所述支撑架与待测量工件开口面的所有接触点形成的平面与支撑架平行;所述支撑架上设有第一杆体和第二杆体,所述第一杆体和第二杆体平行设置,且第一杆体和第二杆体所在的平面与支撑架平行,所述第一杆体和第二杆体上分别套设有第一套件和第二套件,所述第一套件与第一杆体滑动连接,所述第二套件与第二杆体滑动连接,所述第一套件、第二套件与支撑座连接;还包括第三杆体和第四杆体,所述第三杆体的两端分别连接第一套件和第二套件并垂直于第一套件,所述第四杆体的两端分别连接第一套件和第二套件并垂直于第一套件,所述第三杆体和第四杆体所在的平面与第一杆体和第二杆体所在的平面平行或重合,所述第三杆体和第四杆体上分别套设有第三套件和第四套件,所述第三套件与第三杆体滑动连接,所述第四套件与第四杆体滑动连接;所述第三套件和第四套件上设有固定座,所述固定座上连接有旋转轴,所述旋转轴与固定座转动连接,所述旋转轴垂直于第三套件,所述支撑座与旋转轴连接,所述导轨垂直于旋转轴,所述第一套件通过第三套件、第三杆体与支撑座连接,所述第二套件通过第四套件、第四杆体与支撑座连接。

全文数据:

权利要求:

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