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插损测试方法及装置 

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申请/专利权人:苏州元脑智能科技有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种插损测试方法及装置,包括:响应于导入指令,将一个或多个印制电路板的叠层文件导入叠层数据管理单元,其中,叠层文件包括印制电路板的叠层数据;响应于对第一印制电路板的插损测试指令,读取第一印制电路板的编码信息,并在编码信息中解析出第一印制电路板的第一叠层数据;将数据管理单元中的叠层数据与第一叠层数据进行匹配,在数据管理单元匹配到第一叠层数据的情况下,将数据管理单元中与第一叠层数据相匹配的叠层文件确定为目标叠层文件;使用目标叠层文件中的叠层数据和第一叠层数据对第一印制电路板进行插损测试。通过本申请,解决了相关技术中插损测试效率低的问题,进而达到了提高插损测试效率的效果。

主权项:1.一种插损测试方法,其特征在于,应用于印制电路板的插损测试客户端,包括:响应于导入指令,将一个或多个印制电路板的叠层文件导入叠层数据管理单元,其中,所述叠层文件包括所述印制电路板的叠层数据;响应于对第一印制电路板的插损测试指令,读取所述第一印制电路板的编码信息,并在所述编码信息中解析出所述第一印制电路板的第一叠层数据;将所述数据管理单元中的叠层数据与所述第一叠层数据进行匹配,在所述数据管理单元匹配到所述第一叠层数据的情况下,将所述数据管理单元中与所述第一叠层数据相匹配的叠层文件确定为目标叠层文件;使用所述目标叠层文件中的叠层数据和所述第一叠层数据对所述第一印制电路板进行插损测试。

全文数据:

权利要求:

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