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申请/专利权人：云中谷智能科技(苏州)有限公司
摘要：本发明公开了光芯片老化测试设备，涉及芯片测试技术领域，解决了盐雾在设备内部扩散，设备内部顶面也会有盐水附着，使得喷淋头对设备内部进行清洗时存在死角的问题，包括测试箱，测试箱的内部固定安装有两个呈对称分布的盐雾喷头，还包括固定安装于测试箱后下端的排水管，且排水管与测试箱相互连通，测试箱的内部安装有喷淋结构，喷淋结构用于对测试箱内部进行冲洗；本发明通过安装喷淋结构和导流结构，在喷淋结构对测试箱内部进行冲洗的过程中，导流结构中的弧形导流板能够改变部分清水的流向，使清水向上射出，能够对测试箱内部的顶面进行冲洗，从而有利于对测试箱内部无死角清洁，使得对测试箱内部的清洗较为彻底。
主权项：1.光芯片老化测试设备，包括测试箱（1），所述测试箱（1）的内部固定安装有两个呈对称分布的盐雾喷头（2），其特征在于，还包括：固定安装于所述测试箱（1）后下端的排水管（3），且所述排水管（3）与所述测试箱（1）相互连通，所述测试箱（1）的内部安装有喷淋结构（4），所述喷淋结构（4）用于对所述测试箱（1）内部进行冲洗；导流结构（5），所述导流结构（5）用于对所述测试箱（1）内部顶面进行冲洗，所述导流结构（5）安装于所述测试箱（1）的内部，且位于所述喷淋结构（4）的外侧；盛料结构（6），用于盛放待测试光芯片，所述盛料结构（6）安装于所述导流结构（5）的下侧；驱动结构（7），用于驱动所述盛料结构（6）移动，所述驱动结构（7）安装于所述盛料结构（6）的下侧。
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权利要求：
百度查询： 云中谷智能科技(苏州)有限公司 光芯片老化测试设备
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