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申请/专利权人：苏州欣华锐电子有限公司

摘要：本发明提供了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，其能解决现有芯片在老化测试前的摆盘效率底、老化测试后芯片撤盘的分检效率低、工人劳动强度大的问题。其包括具有芯片吸嘴组件和视觉检测组件的芯片升降送料装置通过三轴联动装置安装于机架平台的上方，机架平台上设置有沿纵向直线延伸的芯片托盘上下料装置，并在位于芯片托盘上下料装置的横向一侧设置有老化测试治具板定位承载装置，老化测试治具板定位承载装置的纵向前、后端分别设置有治具板上料装置、治具板下料装置，机架平台并位于治具板上料装置的纵向前侧、治具板下料装置的纵向后侧分别具有进料空腔、出料空腔，进料空腔内、出料空腔内分别可移动地放置有用于层叠承载老化测试治具的框架栏的板移载小车。

主权项：1.一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，其包括机架平台、具有芯片吸嘴组件和视觉检测组件的芯片升降送料装置，所述芯片升降送料装置通过三轴联动装置可横向、纵向、竖向三向平移地安装于所述机架平台的上方，其特征在于：所述机架平台上设置有沿纵向直线延伸的芯片托盘上下料装置，所述机架平台上并位于所述芯片托盘上下料装置的横向一侧设置有老化测试治具板定位承载装置，所述老化测试治具板定位承载装置的纵向前端、纵向后端分别设置有治具板上料装置、治具板下料装置，所述机架平台并位于所述治具板上料装置的纵向前侧、治具板下料装置的纵向后侧分别挖空形成进料空腔、出料空腔，所述进料空腔内、出料空腔内分别可移动地放置有移载小车，所述移载小车上放置有用于层叠承载老化测试治具板的框架栏，所述框架栏的纵向前、后侧面均敞开，所述治具板上料装置能够从纵向前侧面的敞开处伸入到位于所述进料空腔的移载小车的框架栏里将老化测试治具板自上而下依次转移至老化测试治具板定位承载装置上，所述治具板下料装置能够将老化测试治具板定位承载装置上的老化测试治具板沿纵向移载至位于所述出料空腔的移载小车的框架栏里并自下而上依次堆叠；所述老化测试治具板定位承载装置包括支撑架、治具板支承机构和治具板限位机构，所述支撑架固装于所述机架平台上，所述治具板支承机构、治具板限位机构安装于所述支撑架上，所述治具板支承机构用于支承由所述治具板上料装置输送而来的老化测试治具板，所述治具板限位机构对由所述治具板支承机构支承的老化测试治具板进行横向、纵向以及竖向位置的限位；所述支撑架包括一固定底板、以及两块沿纵向平行延伸的纵梁板，两块所述纵梁板均固装于机架平台上且两块纵梁板的底部之间还通过所述固定底板连接；所述治具板支承机构包括支承板和顶升气缸，所述顶升气缸固装于所述固定底板的底部且顶升气缸的推杆竖直朝向贯穿所述固定底板后通过推杆连接件与所述支承板固接；所述固定底板与支承板之间还通过顶升导向组件连接，所述顶升导向组件包括导向轴和导向套筒，所述导向套筒的底部具有法兰部，所述导向套筒自下而上贯穿所述固定底板且所述法兰部与所述固定底板的底面通过螺栓固接、所述导向套筒的顶面与所述支承板底面抵接，所述导向轴自下而上贯穿所述导向套筒后与所述支承板固接；所述顶升导向组件设有四组，四组顶升导向组件呈横向、纵向的矩形分布；所述治具板限位机构包括横向限位组件、纵向限位组件和竖向限位组件；所述横向限位组件包括分别设置于所述两块纵梁板的横向内侧面顶部的限位条，两根所述限位条分别具有沿纵向延伸的L形限位部，且两根所述限位条的L形限位部相向对称设置；所述纵向限位组件安装于所述机架平台上并位于所述支承板的纵向后侧端；所述纵向限位组件包括固装于所述机架平台上并位于所述支承板的纵向后侧端的第一气缸，所述第一气缸的导杆竖直朝上且所述第一气缸的导杆的端部固装有第一顶板，所述第一顶板上固设有沿横向水平延伸的限位板；所述竖向限位组件包括定位压板，所述定位压板的横向内侧边通过支板固装于靠近于所述芯片托盘上下料装置一侧的纵梁板的顶部、横向外侧边通过一直角形支架固装于所述机架平台上，所述定位压板上开设有芯片定位孔，由所述治具板上料装置输送至所述支承板上的老化测试治具板的芯片座与所述芯片定位孔一一对应。

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