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一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统 

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申请/专利权人:华东交通大学

摘要:本公开涉及一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法及其系统,包括:获取被测物体上的完全偏振条纹;其中,完全偏振条纹为投影仪投射完全偏振编码条纹至被测物体上,通过两台偏振相机拍摄得到;计算嵌入在完全偏振条纹中的相移信息和格雷码信息,并对所述格雷码信息进行二值化处理,得到相移条纹图和二值化的互补格雷码图;利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开,完成三维测量。本公开方法可以实现高效稳定的相位匹配。

主权项:1.一种基于完全偏振编码双目结构光测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S10、获取被测物体上的完全偏振条纹;其中,完全偏振条纹为投影仪投射完全偏振编码条纹至被测物体上,通过两台偏振相机拍摄得到;S20、计算嵌入在完全偏振条纹中的相移信息和格雷码信息,并对所述格雷码信息进行二值化处理,得到相移条纹图和二值化的互补格雷码图;S30、利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开,完成三维测量;所述完全偏振编码条纹由两组不同的偏振条纹叠加生成,所述两组不同的偏振条纹分别表示为: , ,式中,n表示待叠加的第n幅偏振条纹,,表示某点的水平偏振向量,表示某点的垂直偏振向量,Ax,y为背景强度,为条纹强度,为条纹的对比度,ϕx,y为相位值;所述嵌入在完全偏振条纹中的相移信息由、两种偏振条纹的斯托克斯参量,通过互补拼接的方式得到相移条纹图,具体为:保留传统互补格雷编码的白色条纹区域条纹,与保留传统互补格雷编码的黑色条纹区域条纹进行拼接;所述计算嵌入在完全偏振条纹中的格雷码信息,具体为: ,式中,为计算得到的相移信息,为嵌入在完全偏振条纹中的格雷码信息,为相机前偏振片为0度时相机拍摄的条纹图,为相机前偏振片为90度时相机拍摄的条纹图;对格雷码信息进行二值化处理,表示为: ,式中,为二值化的互补格雷码;所述利用计算得到的相移条纹图和二值化的互补格雷码图进行相位展开,包括获取左右窗口中绝对相位值之差的绝对值进行立体匹配,表示为: ,式中,为绝对差值和,为左视图的绝对相位值,为右视图的绝对相位值,d为视差值,D为匹配窗口,i、j分别表示遍历匹配区域内的每个像素。

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