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申请/专利权人：上海东沅集成电路有限公司
摘要：本实用新型提供一种MOSFET检测装置，包括检测箱体，所述检测箱体内部可拆卸连接测试电路板，所述测试电路板顶部设有多个MOSFET接线盒，所述检测箱体两侧对称开有滑动凹槽，所述滑动凹槽滑动连接往复移动柱，所述往复移动柱底部连接清洁毛刷，用来解决目前MOSFET检测设备内部设有与待检测的MOSFET相匹配的各个电路板，需要检测时只需将MOSFET引脚插入对应的连接位置即可进行检测，然而检测设备在长时间使用后其连接位置与电路板在静电的作用下容易积灰和灰尘干扰，导致MOSFET检测不准，此时需要对内部检测电路板进行清灰作业，进而降低了MOSFET检测效率的技术问题。
主权项：1.一种MOSFET检测装置，其特征在于：包括检测箱体（1），所述检测箱体（1）内部可拆卸连接测试电路板（2），所述测试电路板（2）顶部设有多个MOSFET接线盒（3），所述检测箱体（1）两侧对称开有滑动凹槽（4），所述滑动凹槽（4）滑动连接往复移动柱（5），所述往复移动柱（5）底部连接清洁毛刷（6）；所述往复移动柱（5）两端开有螺纹孔（51），所述螺纹孔（51）匹配连接转动丝杆（52），所述转动丝杆（52）连接驱动电机（53）输出端，所述驱动电机（53）设于所述检测箱体（1）外侧。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海东沅集成电路有限公司 一种MOSFET检测装置
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