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申请/专利权人：上海积塔半导体有限公司
申请日：2024-03-12
公开（公告）日：2024-06-04
公开（公告）号：CN118130902A
主分类号：G01R27/02
分类号：G01R27/02;G01R31/26;G01R1/02
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.21#实质审查的生效;2024.06.04#公开
摘要：本申请提供一种测试电阻的结构及方法、WAT测试装置，应用于电阻测试技术领域，其中，第一衬垫分别连接第二衬垫和待测电阻Ra的一端；待测电阻Ra的另一端分别连接第三衬垫、第四衬垫以及二极管Rb的正极；二极管Rb的负极分别连接第五衬垫和第六衬垫；处理模块量测得到二极管Rb的阻值；处理模块量测得到待测电阻Ra和二极管Rb的总阻值；处理模块将待测电阻Ra和二极管Rb的总阻值减去二极管Rb的阻值，得到待测电阻Ra的阻值。本申请通过增加一个二极管以及与其匹配的版图设计进行测试，通过引入二极管及衬垫的方法得到需要测试的小电阻阻值，通过此测试电路的结构及测试方法，可以提高量测小电阻阻值的准确性。
主权项：1.一种测试电阻的结构，其特征在于，包括第一衬垫、第二衬垫、第三衬垫、第四衬垫、第五衬垫、第六衬垫、待测电阻Ra、二极管Rb以及处理模块；所述第一衬垫分别连接第二衬垫和待测电阻Ra的一端；所述待测电阻Ra的另一端分别连接第三衬垫、第四衬垫以及二极管Rb的正极；所述二极管Rb的负极分别连接第五衬垫以及第六衬垫；所述处理模块量测得到二极管Rb的阻值；所述处理模块量测得到待测电阻Ra和二极管Rb的总阻值；所述处理模块将待测电阻Ra和二极管Rb的总阻值减去二极管Rb的阻值，得到待测电阻Ra的阻值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海积塔半导体有限公司 测试电阻的结构及方法、WAT测试装置
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