申请/专利权人：苏州六幺四信息科技有限责任公司;南京航空航天大学;苏州六幺六光电科技有限责任公司

申请日：2021-12-30

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN114337839B

主分类号：H04B10/548

分类号：H04B10/548;G01R25/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要：本发明的一种通用光电元器件分析方法，属于光电器材测量技术领域，测试光光器件时，先后测试无待测件和加入待测件的系统响应，通过计算可得到待测光光器件的幅相响应，本发明可测试光‑电转换、电‑光转换、光‑光变换等芯片、模块以及系统的幅度相位参数，可以广泛应用于光通信、激光雷达、量子通信、光传感以及微波光子等领域，具有高测试效率、大动态范围、高频率分辨率、应用广泛等优势。

主权项：1.一种通用光电元器件分析方法，其特征在于，所述分析方法包括如下步骤：S1，双波长相干光源生成两路低频差的相干光载波；所述双波长相干光源用于生成低频差的两路相干光载波，分为上路相干光载波和下路相干光载波，电光调制器对上路光载波进行调制，生成光双边带调制信号，相位稳定模块对下路光载波相位进行控制，光耦合器对两路光信号进行合束，从而生成双载波光调制信号；S2，两路低频差的相干光载波分别经过加载微波信号的待测的电光调制器和相位稳定模块，得到两路光信号；所述S2中利用电光调制器进行调制，经光滤波器后保留光载波和正1阶边带，从而形成双波长相干光源，其中，双波长相干光源角频率分别为ω1，ω2，其满足如下条件：a、ω1和ω2的功率相等；b、ω1-ω2远小于数模转换单元的工作带宽；c、不同波长间相位稳定；S3，两路光信号经过光耦合器合束后，生成双载波光调制信号；S4，双载波光调制信号通过标准光电探测器转换为调制器微波信号；S5，幅相接收模块提取该微波信号的幅相信息后经控制与计算模块解算、去嵌，即可得到待测电光调制器的幅相响应；所述S5中的幅相接收模块直接接收由探测器输出的低频差双频信号，并下转换至基带，且低频差双频微波信号与加载到电光调制器上的微波信号频率差远低于数模转换单元的工作带宽，数模转换单元可将其直接转换成数字信号；S6，使用步骤S3的双载波光调制信号分别通过标准光电探测器和待测光电探测器生成两组探测器微波信号；S7，对比分析两组微波信号的幅相特性，即可提取得到待测光电探测器的幅相响应；S8，分别测试不接入待测件和接入待测光元器件时标准光电探测器输出的微波信号；S9，通过分析两组信号的幅相特性，即可得到待测光光器件的幅相响应。

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