申请/专利权人:粤芯半导体技术股份有限公司
申请日:2024-04-02
公开(公告)日:2024-06-28
公开(公告)号:CN118263097A
主分类号:H01L21/02
分类号:H01L21/02;H01L21/3105
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.28#公开
摘要:本申请公开了一种改善晶圆翘曲方法、分立器件制备方法以及分立器件,涉及半导体制造技术领域。该方法包括:在晶圆的正面上沉积层间介质层后,将层间介质层的表面磨平;在层间介质层上沉积氮化硅材料以形成保护层;通过炉管工艺在保护层的表面和晶圆的背面沉积多晶硅材料以分别形成第一膜层和第二膜层;将第一膜层去除;将保护层去除;对层间介质层进行后续工艺处理。通过上述技术手段,以在层间介质层上沉积氮化硅以避免层间介质层的表面受到污染,通过炉管工艺在晶圆的正反面沉积多晶硅以在不对晶圆进行翻面的情况下在晶圆的背面形成应力层,进一步避免层间介质层的表面受到污染,保证晶圆后续的工艺可正常进行。
主权项:1.一种改善晶圆翘曲方法,其特征在于,包括:在晶圆的正面上沉积层间介质层后,将所述层间介质层的表面磨平;在所述层间介质层上沉积氮化硅材料以形成保护层;通过炉管工艺在所述保护层的表面和所述晶圆的背面沉积多晶硅材料以分别形成第一膜层和第二膜层;将所述第一膜层去除;将所述保护层去除;对所述层间介质层进行后续工艺处理。
全文数据:
权利要求:
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