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申请/专利权人:电子科技大学
摘要:本发明属于电数字数据处理领域,具体提供一种跨芯粒ASIC芯片老化预测方法,用以实现了同一SIP微系统中待测ASIC芯片的老化预测。本发明首先针对待测ASIC芯片外的其他运算单元配置工作负载提取模块,用以获取负载数据;然后针对待测ASIC芯片与其他运算单元进行独立的转换接口设计,实现老化数据与负载数据的有效传输,同时,根据负载数据在其他运算单元中选取工作负载最小的运算单元作为最优运算单元,用以实现老化数据的预处理及建模预测;由此,实现了同一SIP微系统中待测ASIC芯片的老化预测,能够避免专用处理器或独立上位机的使用,并且,转换接口的创新设计也使得SIP微系统互联方式更加灵活,使得本发明具有更加广泛的适用性。
主权项:1.一种跨芯粒ASIC芯片老化预测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1.配置SIP微系统,SIP微系统包括若干个微组件,微组件包括互联裸芯、存储单元以及运算单元;运算单元包括待测ASIC芯片,将SIP微系统中待测ASIC芯片外的运算单元标记为其他计算单元,对其他运算单元分别配置工作负载提取模块;步骤2.对于每一个其他运算单元,通过工作负载提取模块提取负载数据,并通过转换接口转换为工作负载数据包,并通过互联裸芯向待测ASIC芯片发送;步骤3.对于待测ASIC芯片,通过传感器采集老化预测数据,同时通过互联裸芯接收所有其他运算单元的负载数据包,老化预测数据与负载数据包通过转换接口转换为老化预测数据包,再通过互联裸芯向每一个其他运算单元发送,老化预测数据包中包括:最优运算单元的ID编号与老化预测数据;待测ASIC芯片与互联裸芯的转换接口由存储器、比较器、数据包编码器与数据包解码器构成,转换接口接收老化预测数据后存放于存储器中;转换接口接收每个其他运算单元的工作负载数据包后,数据包编码器对工作负载数据包进行解码,得到对应运算单元的ID编号与负载数据,通过比较器选出负载数据最小的其他运算单元作为最优运算单元,并将其ID编号传输至数据包编码器,数据包编码器读取老化预测数据并将其转换为老化预测数据包,并向每个其他运算单元发送,老化预测数据包中包括:最优运算单元的ID编号与老化预测数据;步骤4.其他运算单元通过互联裸芯接收老化预测数据包,并通过转换接口根据最优运算单元的ID编号选择性接收老化预测数据,基于老化预测数据完成老化预测并输出结果。
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百度查询: 电子科技大学 一种跨芯粒ASIC芯片老化预测方法
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