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MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 

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申请/专利权人:绍兴圆方半导体有限公司

摘要:本申请提出一种MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质。该方法包括:FPGA板连接MCU,并通过自身的多个接口连接若干MEMS芯片,每一接口连接一MEMS芯片,MCU还连接上位机;FPGA板将接收自上位机的控制指令并行传输给各个MEMS芯片;FPGA板接收各个MEMS芯片并行传输的测试数据;FPGA板将测试数据发送给MCU,以由MCU对测试数据进行分析并将分析结果发送给上位机,或者,FPGA板对测试数据进行分析,并将分析结果发送给MCU以由MCU发送给上位机。本申请可以降低芯片测试时间,提高测试效率,还可以根据各个MEMS芯片的差异实现针对性自动校准。

主权项:1.一种MEMS芯片的测试方法,其特征在于,所述MEMS芯片用于控制惯性测量单元IMU或陀螺仪的多个轴,所述方法包括:FPGA板连接MCU,并通过自身的多个接口连接若干MEMS芯片,每一接口连接一MEMS芯片,所述MCU还连接上位机;所述FPGA板将接收自上位机的控制指令并行传输给各个MEMS芯片;所述FPGA板接收各个MEMS芯片并行传输的测试数据;所述FPGA板将所述测试数据发送给MCU,以由所述MCU对所述测试数据进行分析并将分析结果发送给上位机,或者,所述FPGA板对所述测试数据进行分析,并将分析结果发送给MCU以由所述MCU发送给上位机。

全文数据:

权利要求:

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