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申请/专利权人：上海壁仞科技股份有限公司
摘要：本发明实施例提供一种芯片功耗的检测方法和装置，其中，芯片功耗的检测装置包括：检测源；功耗激励产生模块，所述功耗激励产生模块与所述检测源连接；至少一个待检测模块，所述功耗激励产生模块与至少一个所述待检测模块连接。所述芯片功耗的检测方法包括：检测源发送使能信号至功耗激励产生模块，以使所述功耗激励产生模块生成激励信号；功耗激励产生模块将所述激励信号输入至目标待检测模块，以得到所述目标待检测模块的真实功耗，以满足后续对芯片功耗分析的需求。
主权项：1.一种芯片功耗的检测装置，其特征在于，包括：检测源；功耗激励产生模块，所述功耗激励产生模块与所述检测源连接且均位于芯片内，所述检测源发送使能信号至所述功耗激励产生模块，以使所述功耗激励产生模块产生激励信号；至少一个待检测模块，所述功耗激励产生模块与至少一个所述待检测模块连接，以使所述功耗激励产生模块将所述激励信号输入至目标待检测模块，以得到所述目标待检测模块的真实功耗；还包括：寄存器，所述检测源通过所述寄存器与所述功耗激励产生模块连接，所述寄存器接收所述使能信号，并将所述使能信号发送至对应的功耗激励产生模块；每个待检测模块的输入端连接有选择单元，所述选择单元分别与所述功耗激励产生模块和原输入信号端连接；所述选择单元与所述寄存器连接，用于在所述目标待检测模块的选择单元接收到所述寄存器发送的使能信号的情况下，所述功耗激励产生模块与所述目标待检测模块通过所述选择单元导通；所述检测装置还连接有比较运算单元和检测器；所述检测器在检测到目标待检测模块在输入激励信号之后的功耗的情况下，所述比较运算单元将所述目标待检测模块在输入激励信号之前的功耗与输入激励信号之后的功耗相比较，得到所述目标待检测模块的真实功耗。
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百度查询： 上海壁仞科技股份有限公司 一种芯片功耗的检测方法和装置
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