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抖动测量电路、包括该抖动测量电路的抖动分析装置以及制造半导体器件的相关方法 

申请/专利权人:三星电子株式会社

申请日:2023-07-12

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118226221A

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;H03K5/13

优先权:["20221219 KR 10-2022-0178427"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:一种抖动分析装置可以包括:第一延迟电路,被配置为延迟参考时钟以输出第一时钟;第二延迟电路,被配置为延迟参考时钟以输出第二时钟,具有大于第一延迟电路的延迟值的延迟值;以及测试设备,被配置为通过测量第一时钟和第二时钟来测量第一延迟电路和第二延迟电路的抖动分量。

主权项:1.一种抖动分析装置,包括:第一延迟电路,被配置为延迟参考时钟以输出第一时钟;第二延迟电路,被配置为延迟所述参考时钟以输出第二时钟,并且具有大于所述第一延迟电路的延迟值的延迟值;以及测试设备,被配置为通过测量所述第一时钟和所述第二时钟来测量所述第一延迟电路和所述第二延迟电路的抖动分量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三星电子株式会社 抖动测量电路、包括该抖动测量电路的抖动分析装置以及制造半导体器件的相关方法

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