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CPU镀层的形成方法 

申请/专利权人:东莞新科技术研究开发有限公司

申请日:2022-12-23

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118241160A

主分类号:C23C14/08

分类号:C23C14/08;C23C14/10;C23C16/40;C23C16/455;C23C14/30;C23C14/35;B82Y30/00;B82Y40/00;G06F1/20

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明的CPU镀层的形成方法,包括:封装CPU并将所述CPU的待处理表面暴露;清洗所述待处理表面;以及在具有负压的真空腔室内对所述待处理表面进行镀膜形成镀层,所述镀层为SiO2、TiO2、Al2O3中的一种或多种。本发明在CPU的预定表面上形成具有散热性能的镀膜,从而防止CPU在运行时过热而影响工作性能。

主权项:1.一种CPU镀层的形成方法,其特征在于,包括:封装CPU并将所述CPU的待处理表面暴露;清洗所述待处理表面;以及在具有负压的真空腔室内对所述待处理表面进行镀膜形成镀层,所述镀层为SiO2、TiO2、Al2O3中的一种或多种。

全文数据:

权利要求:

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