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一种射频芯片高频性能测试校准夹具 

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申请/专利权人:成都华轺科技有限公司

摘要:本实用新型提供了一种射频芯片高频性能测试校准夹具,包括夹具组件,所述夹具组件包括安装底板、安装腔体、安装座、上盖、压紧块。本实用新型把控制接口和供电部分接地升级为探针板,射频传输和部分接地还是采用膜片传输,夹具采用膜片和探针板混装方式,本夹具采用导电膜和探针板混装方案,探针板配合PCB满足数字信号传输和产品供电使用,供电和控制采用探针传输可以承受较大电流,导电膜传输射频信号,可以把射频SWR(驻波比)在67GHz频段降低到1.4以内,损耗也非常小很适合射频产品测试,同时夹具设计了电压测试口,解决了67GHz以内的射频芯片封装产品测试难题,解决了行业痛点,为射频芯片射频芯片生产测试提供保障,使其测试精度更高更准确。

主权项:1.一种射频芯片高频性能测试校准夹具,包括夹具组件(1),其特征在于:所述夹具组件(1)包括安装底板(2)、安装腔体(3)、安装座(4)、上盖(5)、压紧块(6)、PCB板(7)、探针板(8)、镀金同轴安装块(9)、限位框安装支架(10)、导电膜(11);所述安装底板(2)的顶部固定连接有安装腔体(3),所述安装腔体(3)的顶部固定连接有安装座(4),所述安装座(4)的顶部转动连接有上盖(5),所述上盖(5)的一侧设有压紧块(6),所述安装腔体(3)的顶部为开口设置,所述安装腔体(3)的顶部固定连接有镀金同轴安装块(9),所述安装座(4)套设在镀金同轴安装块(9)的外侧,所述镀金同轴安装块(9)的底部内壁上固定连接有PCB板(7),所述PCB板(7)的顶部设有探针板(8),所述镀金同轴安装块(9)的内壁上设有限位框安装支架(10),所述限位框安装支架(10)的底部内壁上安装有导电膜(11),所述安装底板(2)的底部固定连接有四个防滑部(15),所述上盖(5)上设有卡合部(12),所述安装座(4)上设有卡槽(13),所述卡合部(12)与卡槽(13)相配合,所述安装腔体(3)的后侧设有电压测试口(26)。

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