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【发明公布】一种高亮度倒装车规芯片及其制备方法_华引芯(武汉)科技有限公司;华引芯(张家港)半导体有限公司_202410636119.1 

申请/专利权人:华引芯(武汉)科技有限公司;华引芯(张家港)半导体有限公司

申请日:2024-05-22

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118231536A

主分类号:H01L33/00

分类号:H01L33/00;H01L33/06;H01L33/46

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本发明提供了一种高亮度倒装车规LED芯片及其制备方法,制备方法的步骤包括在衬底上依次生长出缓冲层、N型半导体层、多量子阱层、P型半导体层;在P型半导体层的表面蒸镀电流扩展层,并进行MESA台阶面的刻蚀;控制刻蚀倾斜角度,刻蚀至N型半导体层表面停止,以增加所述多量子阱层的面积;对晶圆进行划裂和固晶,芯片裂片固晶后通过镀DBR包覆芯片侧壁。在本申请中,通过在芯片段刻蚀时不刻蚀N型半导体层,增加N型半导体层的面积,进而在刻蚀MESA台阶面时,通过控制刻蚀倾斜角度,保留更大面积的多量子阱层,以增加芯片的有效出光面积,提升芯片的亮度。

主权项:1.一种高亮度倒装车规LED芯片的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:在衬底上依次生长出缓冲层、N型半导体层、多量子阱层、P型半导体层;在所述P型半导体层的表面蒸镀电流扩展层,并进行MESA台阶面的刻蚀;控制刻蚀倾斜角度,刻蚀至所述N型半导体层表面停止,以增加所述多量子阱层的面积;在所述电流扩展层表面制作电流阻挡层;在所述电流阻挡层上制作银镜膜层和银镜保护层;制作PN金属焊盘,并对晶圆进行划裂和固晶;芯片裂片固晶后通过镀DBR膜层包覆芯片侧壁;其中,控制刻蚀倾斜角度,刻蚀至所述N型半导体层表面停止,以增加所述多量子阱层的面积的步骤包括:在所述电流扩展层涂布光刻胶,并进行烘烤;对晶圆正面光刻胶涂布的区域进行曝光和显影后制备得到MESA光刻图形;对中间区域的所述电流扩展层使用ITO蚀刻液进行腐蚀;进行MESA台阶面的刻蚀,并控制倾斜角度和深度,刻蚀后去除光刻胶;其中,倾斜角度为40°至50°,刻蚀深度1.0至1.2μm,以使制备得到的高亮度倒装车规LED芯片中,所述多量子阱层面积与所述衬底面积之比高于0.9。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华引芯(武汉)科技有限公司;华引芯(张家港)半导体有限公司 一种高亮度倒装车规芯片及其制备方法

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