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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
摘要：本发明提供了一种量子芯片的测试方法、装置及量子计算机，所述测试方法包括：设置一驱动信号的功率为预设值，对一待测量子比特执行能谱实验，获取实验结果，所述实验结果包括：与所述待测量子比特耦合的读取腔的S21相位随所述驱动信号的频率值的第一变化关系；获取所述第一变化关系中的峰值点及对应的所述驱动信号的频率值；获取所有所述峰值点处所述待测量子比特被激发的概率；当仅有一个所述峰值点处所述待测量子比特被激发的概率达到设定阈值时，获取达到所述设定阈值的所述峰值点处对应的所述驱动信号的频率值作为所述待测量子比特的频率参数。本发明提高了测试效率及测试精度，且后续无需执行Ramsey实验进行验证，简化了流程。
主权项：1.一种量子芯片的测试方法，其特征在于，包括：设置一驱动信号的功率为预设值，对一待测量子比特执行能谱实验，获取实验结果，所述实验结果包括：与所述待测量子比特耦合的读取腔的S21相位随所述驱动信号的频率值的第一变化关系；获取所述第一变化关系中的峰值点及对应的所述驱动信号的频率值；获取所有所述峰值点处所述待测量子比特被激发的概率；当仅有一个所述峰值点处所述待测量子比特被激发的概率达到设定阈值时，获取达到所述设定阈值的所述峰值点处对应的所述驱动信号的频率值作为所述待测量子比特的频率参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 量子芯片的测试方法、装置及量子计算机
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