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申请/专利权人：合肥开梦科技有限责任公司
摘要：存储器管理方法及存储器控制器。存储器管理方法包括：根据存储装置的装置临界温度，计算总功率阈值；分别向多个芯片使能引脚的多个芯片执行擦除操作、写入操作及读取操作，以测量存储装置的可复写式非易失性存储器模块的对应每个芯片使能引脚的单一芯片的擦除功率、写入功率及读取功率；根据擦除功率、写入功率、读取功率，确定并执行多个测试计划，并且获取在执行多个测试计划时的存储装置的多个总功率；根据多个总功率及总功率阈值，确定多个测试计划中的多个候选测试计划；以及从多个候选测试计划中选择多个目标测试计划，排序多个目标测试计划，以依序向多个芯片执行对应多个目标测试计划的多个测试操作。本申请有利于提高测试准确性。
主权项：1.一种存储器管理方法，适用于配置有可复写式非易失性存储器模块的存储装置的存储器控制器，其特征在于，包括：根据所述存储装置的装置临界温度，计算总功率阈值；分别向多个芯片使能引脚对应的多个芯片执行擦除操作、写入操作及读取操作，以测量所述可复写式非易失性存储器模块内对应每个芯片使能引脚的单一芯片的擦除功率、写入功率及读取功率；根据所述擦除功率、所述写入功率、所述读取功率，确定并执行多个测试计划，并且获取在执行所述多个测试计划时的所述存储装置的多个总功率，其中每个测试计划指示所述多个芯片中的多个测试芯片分别执行测试操作，其中所述测试操作包括所述擦除操作、所述写入操作或所述读取操作，并且每个测试芯片所执行的所述测试操作是相同或不相同的；根据所述多个总功率及所述总功率阈值，确定所述多个测试计划中的多个候选测试计划，其中所述多个总功率中对应每个候选测试计划的总功率皆小于所述总功率阈值；以及从所述多个候选测试计划中选择多个目标测试计划，排序所述多个目标测试计划，以基于已排序的所述多个目标测试计划，依序向所述多个芯片执行对应所述多个目标测试计划的多个测试操作。
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权利要求：
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