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【发明公布】半导体晶圆和用于加工半导体晶圆的方法_罗伯特·博世有限公司_202311699184.0 

申请/专利权人:罗伯特·博世有限公司

申请日:2023-12-12

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118198035A

主分类号:H01L23/544

分类号:H01L23/544;H01L21/71;H01L21/77

优先权:["20221212 DE 102022213419.2"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:提出一种具有前侧和背侧的半导体晶圆305,其中,该前侧与该背侧相对置,其中,该前侧具有不同的机械应力区域,其特征在于,在该前侧上布置有结构化的载体衬底307,该载体衬底具有带有不同材料特性的不同材料,其中,所述不同的材料布置在所述不同的机械应力区域上。还提出一种用于加工半导体晶圆的方法。

主权项:1.一种具有前侧和背侧的半导体晶圆305,其中,所述前侧与所述背侧相对置,其中,所述前侧具有不同的机械应力区域,其特征在于,在所述前侧上布置有结构化的载体衬底307,所述载体衬底具有带有不同材料特性的不同的材料,其中,所述不同的材料布置在所述不同的机械应力区域上。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 罗伯特·博世有限公司 半导体晶圆和用于加工半导体晶圆的方法

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