首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【实用新型】一种用于半导体芯片检测的点测机构_常州银河电器有限公司_202322617268.7 

申请/专利权人:常州银河电器有限公司

申请日:2023-09-26

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN221199854U

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;G01R1/04

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权

摘要:本实用新型公开了一种用于半导体芯片检测的点测机构,包括安装板,用于对整个机构进行位置的安装固定,调节机构螺栓连接在安装板的顶部,用于对点测机构进行位置的调节,点测机构螺栓连接在调节机构上,用于对半导体芯片进行检测。本实用新型通过在点测机构上设置有多方向调节机构,使其能够根据所需要的点测位置进行合理的调节固定,进而实现对半导体芯片的检测操作,同时整体结构紧凑,便于安装固定和后期快速的拆卸维护,提高在后期维护中的便捷性。

主权项:1.一种用于半导体芯片检测的点测机构,其特征在于:包括安装板1,用于对整个机构进行位置的安装固定;调节机构,螺栓连接在安装板1的顶部,用于对点测机构进行位置的调节;点测机构,螺栓连接在调节机构上,用于对半导体芯片进行检测。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 常州银河电器有限公司 一种用于半导体芯片检测的点测机构

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。