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半导体结构及其形成方法 

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申请/专利权人:台湾积体电路制造股份有限公司

摘要:半导体结构从底部至顶部或从顶部至底部包括栅电极、铁电介电层、富金属的金属氧化物层、介电金属氮化物层和金属氧化物半导体层。可以通过在金属氧化物半导体层上形成源极区域和漏极区域来提供铁电场效应晶体管。富金属的金属氧化物层和介电金属氮化物层使铁电介电层和金属氧化物半导体层之间的界面均匀并且稳定,并且减少界面处的过量氧原子,从而改善铁电场效应晶体管的切换特性。本申请的实施例还涉及形成半导体结构的方法。

主权项:1.一种半导体结构,包括:绝缘材料层,位于衬底上方;以及铁电场效应晶体管,位于所述绝缘材料层上方,其中,所述铁电场效应晶体管从底部至顶部或从顶部至底部包括:栅电极;栅极电介质,包括铁电介电层、富金属的金属氧化物层和介电金属氮化物层的堆叠件;以及金属氧化物半导体层,包括半导体沟道。

全文数据:

权利要求:

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